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PHL 应力双折射检测仪PA系列PA-300-北京茄子视频下载污科技有限公司




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PHL 应力双折射检测仪PA系列
产品简介：

PHL 应力双折射检测仪PA系列由日本Photonic lattice公司开发，具备高精度和快速测量的特点。 该设备采用光子晶体偏光阵列片和独特的双折射算法，能在几秒内完成从毫米级到接近500毫米样品的双折射测量，测量范围为0-130nm。 其特点包括操作简便、视野广阔、无需旋转光学滤片，并配备高像素偏振相机。 适用于光学镜片、智能手机玻璃基板及蓝宝石等材料的测量，支持多种分析功能和外部控制

产品型号：PA-300

更新时间：2026-01-16

厂商性质：代理商

访问量：93

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产品介绍
品牌Photonic Lattice价格区间面议
产地类别进口应用领域化工,电子/电池,道路/轨道/船舶,航空航天
PHL 应力双折射检测仪PA系列

PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶体技术，针对玻璃、SIC晶圆、蓝宝石等低应力双折射的测量系统，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息

产品简介:

PHL 应力双折射检测仪PA系列针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备，通过核心的偏光图像传感器，可以快速准确的测量透明材料的应力双折射，针对不同产品尺寸，均有可匹配的型号可供选择。

主要特点:

可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布

面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据

具备点、线、面、3D的分析功能

500万像素，高分辨能力

可输出光程差（nm）、偏振角度（°）、应力（Mpa）、应力双折射（nm/mm）

技术参数：

PHL 应力双折射检测仪PA系列

测量案例

PHL 应力双折射检测仪PA系列

PHL 应力双折射检测仪PA系列

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